Keysight WaferPro Express 2020.1 半導體元件核心量測 英文版
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軟體名稱: Keysight WaferPro Express 2020.1 
語系版本: 英文版 
光碟片數: 單片裝(單面 DVD) 
保護種類: 破解檔、授權伺服器 
破解說明: 見最底下
系統支援: 適用 64 位元的 Windows 7/8.1/10 
硬體需求: PC 
軟體類型: 半導體元件核心量測 
更新日期: 2020.09.28 
軟體發行: Keysight Technologies(OD) 
官方網站: https://www.keysight.com/en/pc-2400412/waferpro-express-on-wafer-measurement-program-software?cc=TW&lc=eng
中文網站: 無 
軟體簡介: (以官方網站為準) 
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WaferPro Express  軟體能夠對電晶體和電路元件等半導體元件，執行自動晶圓級 
量測，並可提供完整的驅動程式和測試常式，以支援各種儀器和晶圓探棒。其全新 
的操作介面使得設定和執行複雜的晶圓級測試方案變得非常簡單。新的 Python 程 
式設計環境還可支援強大的客製功能。 
 
WaferPro Express 是我們與 Cascade Microtech 攜手合作的產物，也是晶圓級量 
測解決方案（WMS）的核心軟體。WMS  產品可加快進行首次量測的速度，並提供精 
確和可重複的裝置和元件特性分析。如欲瞭解更多資訊，請參見晶圓級量測解決方 
案 Cascade Microtech。 
 
WaferPro Express 的主要特性 
擁有全套測試演算法和儀器驅動程式，可以縮短軟體學習時間，加快量測系統的設 
定過程，讓您更快開始首次量測 
 
現代化和直覺的操作介面方便您快速連接儀器，並確定測試計畫。為了進一步提高 
效率，該軟體還與 Cascade Microtech Nucleus 和 WinCal XE 軟體相整合，以便 
進行探量台控制和自動射頻校驗 
 
與 Cascade Microtech 的最新控制軟體 Velox 2 進行了獨家整合。WaferPro  和 
Velox 之間的全新 WaferSync  介面，可支援完整的晶圓映射同步功能，並能在測 
試方案執行期間，自動監測射頻校驗 
 
如需處理大量資料時，Data Display、Wafer Mapping Data Viewer 和 SQL  資料 
庫等先進工具可以顯著提高生產率。此外，Python/PEL  程式設計環境讓您可以客 
製測試演算法和分析量測資料 
 
WaferPro Express  是先進低頻雜訊分析儀（A-LFNA）的正式軟體平台。先進低頻 
雜訊分析儀專為進行精確且可重複的低頻雜訊量測而設計 
 
介紹 

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站長安裝測試環境與安裝說明:
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‧測試環境 Windows 10.2004 ６４位元繁體中文企業版、AMD CPU、4 GB 記憶體。 
 
‧見光碟 "安裝說明.txt" 中文說明 
 

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